Dissertação de Mestrado:
Quantificação de Elementos Traço em Material Particulado Nano, Ultrafino, Fino e Grosso de Emissões Veiculares no Entorno do Instituto de Aplicação da UERJ

Roger Rodrigues de Castro

PEAMB

Orientador

Profa. Dsc. Simone Lorena Quiterio de Souza

Coorientador

Prof. Eduardo Monteiro Martins

Banca

* Profa. Dsc. Simone Lorena Quiterio de Souza - FEN/UERJ
* Prof. Eduardo Monteiro Martins
* Prof. Dsc. Sergio Machado Corrêa - FEN/UERJ
* Dsc. Josiane Loyola da Silva - Instituto de Química - UFRJ

Data - hora da defesa

29/08/2019

Resumo

O objetivo deste trabalho foi analisar a composição de elementos traço presentes no material particulado (MP) nano, ultrafino, fino e grosso de emissões veiculares no entorno do Instituto de Aplicação da UERJ, utilizando o equipamento amostrador modelo 120 MOUDI II, que é um impactador em cascata de ampla resolução. Os elementos analisados foram: Cd, Co, Cu, Ni, Ag, Be, Pb, Cr, Sn, Sr, Mn, Mo, Te, Mg, Zr, Se, P, S, Rh, Pt, W, As, Sb, V, Li Ti, Fe e Bi. Foram obtidas 8 amostras, durante o período de março/2019 à maio/2019. Após extração ácida, os elementos foram analisados via ICP – OES (Espectrometria de emissão atômica com plasma acoplado indutivamente). Os resultados obtidos foram tratados estatisticamente, utilizando as ferramentas da estatística descritiva e multivariada (coeficiente de correlação, análise de conglomerado e de componente principal), sendo realizado também o cálculo do fator de enriquecimento. A concentração de MP nas frações estudadas em massa do MPF (MP fino) foi 3,9 vezes maior do que a MPG (MP grosso). As concentrações médias das partículas nano, ultrafinas, finas, grossas foram: 11,8; 8,2; 7,6 e 7,1 μg m-3, respectivamente. As partículas nano e ultrafinas tiveram a maior concentração média total (20,0 μg m-3) em relação aos demais tamanhos. As concentrações de metais traços obtidas nas frações foram comparadas com os padrões de qualidade do ar preconizados pela EPA e NIOSH e com outras localidades. Quando comparados com as legislações, apenas o Cu (48,72 ng m-3) ficou abaixo do limite estabelecido pela NIOSH, com limites de 100 ng m-3 para o Cu. Observou-se uma grande correlação entre a maioria dos metais traços estudados, isso deve-se provavelmente ao fato de estarem associados as diversas fontes de emissão veicular, não sendo possível atribuir o metal a sua respectiva origem. Os elementos Cd, Ag, Tl, Bi, Pb, Sn, Mo, Te, Se, S, Rh, Pt, W, As, Sb Co, Cu, Ni, Sr, Li, Zr e P estão enriquecidos por fonte antrópica e veicular. Palavras Chaves: Material particulado; Elementos traço; Nanopartículas; Emissões veiculares; Moudi

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